■ Prober & Tester完全整合，效益大幅提升
■ 適用覆晶 LED(Flip Chip LED)
■ 4 吋積分球下收光設計
■ 可點測Chip Form & Wafer Form
■ 採用進口螺桿，機械剛性優，減少磨耗產生背隙
■ 優化機構設計，運動時間大幅縮短
■ 主動式針座，針痕大小一致，延長探針壽命
■ 可放置雙卡匣，自動載入載出
