■ Prober & Tester完全整合,效益大幅提升
■ 適用覆晶 LED(Flip Chip LED)
■ 4 吋積分球下收光設計
■ 可點測Chip Form & Wafer Form
■ 採用進口螺桿,機械剛性優,減少磨耗產生背隙
■ 優化機構設計,運動時間大幅縮短
■ 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命
■ 可放置雙卡匣,自動載入載出