VPT 8090/8890 Series

VCSEL晶圓點測機

✹ Prober & Tester整合一體機

✹ LIV Curve測試架構

✹ 高機構整合、高測試穩定度

✹ 提供高功率/低功率產品量測

✹ 可搭配溫度控制載盤與選配其他配備

✹ 適用4”-6”Wafer檢測

VCSEL晶圓點測系統

VCSEL晶圓檢測設備專為檢測VCSEL晶圓性能而設計，能精確測量VCSEL晶粒的光學和電氣特性，確保其在通訊、3D感測等應用中的高性能表現。VPT系列設備能提供精準的VCSEL量測數據，可依據客戶需求進行客製化，整合多種功能以滿足不同的應用和測試標準，進一步提升產品質量與穩定性。

LIV Curve 測試項目

光性測試項目：Ith、SE、Linearity、Kink、Pmax、Rollover、P1/P2

電性測試項目：Rs、Imax、V1/V2

選配項目

溫度控制載盤

溫控範圍可依需求選配

OSA

依客戶需求選配OSA

清針模組

毛刷、清針貼片清潔

條碼掃描器

快速追蹤產品相關信息

特色