APT 6000

整合型LED晶粒/晶圓點測機

LED chip & wafer probing and testing system
Prober & Tester完全整合,效益大幅提升!
積分球直接收光架構及遮光罩設計,杜絕背景光干擾。

    

■ 採用進口螺桿,機械剛性強,減少磨耗產生背隙

■ 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命

■ 錄音式警報系統,可依不同狀況錄製不同語音警示

■ 外型尺寸優化縮小,提高廠房利用率

■ 積分球直接收光架構

■ 可點測Chip Form& Wafer Form