LFP 6200

覆晶型LED晶粒/晶圓點測機

LED Flip chip / wafer probing and testing system
 

   

■ 適用於覆晶型LED(Flip Chip LED)

■ 4吋積分球上下收光設計

■ Prober & Tester完全整合

■ 可點測Chip Form& Wafer Form

■ 採用進口螺桿,機械剛性強,減少磨耗產生背隙

■ 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命