FWP 6000

全自動LED晶圓點測機

Auto LED wafer probing and testing system
全自動化
搭配機器視覺定位系統,大幅提升點測效率!

      

■ Dual Cassette全自動取料放料

■ 專利自主校正功能

■ 抽測方式可多樣化選擇

■ 外型尺寸優化縮小,提高廠房利用率

■ 採用進口螺桿,機械剛性強,減少磨耗產生背隙

■ 主動式針座,針痕大小一致,延長探針壽命